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涂层测厚仪测试如何达到*佳测量精度
日期:2024-07-27 10:19
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摘要:
涂层测厚仪测试如何达到*佳测量精度
1.一般涂层测厚仪均有要求一个给定的*小厚度,使探头的电磁场能够完全包容在基体金属中,*小厚度与测厚仪的性能及金属基体的性质有关,在这个*小厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值进行修正。对于基体厚度不够,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以解决。如难以决断,或无法额外增加基材还可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪.
2.表面粗糙度和表面清洁度会对测厚值有影响,粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。因此不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不*。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予以清洁去除。有的仪表上下限,以剔除那些“飞点”。
3.探头测量板测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能越小越好。才不致使软的覆层发生形变,以致测量值下降。若产生大的波动,必要时,可在两者之间垫一层比较坚硬的并且不导电具有一定厚度的硬性薄膜。这样可以通过减去薄膜厚度就能得到适当地剩磁。
4.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁有比较大的影响,因此应该尽量避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁,根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差,但是如结构钢,深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。具体磁场对厚度影响请参考涂层测厚仪试片和磁场对厚度的影响
5.涂层材料中会存在某些铁磁成份和导电成份,会对测厚仪测量值产生影响,在这种情况下,*好对用作校准的对比试样涂层应具有与被测物涂层相同的电磁特性,经校准后使用。使用的方法可以是将同样的涂层涂在铝或铜板试样上,用电涡流法测试可获得对比标准试样。
1.一般涂层测厚仪均有要求一个给定的*小厚度,使探头的电磁场能够完全包容在基体金属中,*小厚度与测厚仪的性能及金属基体的性质有关,在这个*小厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值进行修正。对于基体厚度不够,可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以解决。如难以决断,或无法额外增加基材还可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键,便可以得到准确的直读厚度值。反之利用厚度太小产生的影响又可以研制直接测铜箔厚度的测厚仪.
2.表面粗糙度和表面清洁度会对测厚值有影响,粗糙度表面上为获得一个有代表性的平均测量值必须进行多次测量才行。因此不论是基体或是覆层,越粗糙,测量值越不*。为获得可靠的数据,基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。而对于表面杂质,则应予以清洁去除。有的仪表上下限,以剔除那些“飞点”。
3.探头测量板测量时的作用力应是恒定的。并应尽可能越小越好。才不致使软的覆层发生形变,以致测量值下降。若产生大的波动,必要时,可在两者之间垫一层比较坚硬的并且不导电具有一定厚度的硬性薄膜。这样可以通过减去薄膜厚度就能得到适当地剩磁。
4.外界恒磁场、电磁场和基体剩磁有比较大的影响,因此应该尽量避免在有干扰作用的外界磁场附近进行测量。残存的剩磁,根据检测器的性能可能导致或多或少的测量误差,但是如结构钢,深冲成形钢板等一般不会出现上述现象。具体磁场对厚度影响请参考涂层测厚仪试片和磁场对厚度的影响
5.涂层材料中会存在某些铁磁成份和导电成份,会对测厚仪测量值产生影响,在这种情况下,*好对用作校准的对比试样涂层应具有与被测物涂层相同的电磁特性,经校准后使用。使用的方法可以是将同样的涂层涂在铝或铜板试样上,用电涡流法测试可获得对比标准试样。