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涂层测厚仪影响测量的因素
日期：2024-07-26 08:47
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摘要：
涂层测厚仪影响测量的因素
1.基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变革的影响（在现实应用中，低碳钢磁性的变革可以以为是轻细的）。为了制止热处置处罚、冷加工等因素的影响，应利用与镀件金属具有雷同性子的铁基片上 对仪器举行校对。
2.基体金属厚度：每一种仪器都有一个基本的基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边沿效应：本仪器对试片外貌形状的陡变敏感，因此在靠近试片边沿或内转角处举行测量是不行靠的。
4.曲率：试件的曲率也会对测量精度有影响，这种影响是随着曲率半径减小显着增大。因此不该在试件凌驾容许的曲率半径的弯曲面上测量。
5.粗糙度：基体金属和外貌粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙外貌会引起体系偏差和偶尔偏差。每次测量时，在差别位置上适当增加测量的次数，可以降低这种偶尔出现的偏差。
要是基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相雷同的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐化性的溶液撤除在基体金属上的笼罩层，再校对仪器零点。
1.基体金属磁化：磁性法测量受基体金属磁性变革的影响（在现实应用中，低碳钢磁性的变革可以以为是轻细的）。为了制止热处置处罚、冷加工等因素的影响，应利用与镀件金属具有雷同性子的铁基片上 对仪器举行校对。
2.基体金属厚度：每一种仪器都有一个基本的基体金属的临界厚度，大于这个厚度测量就不受基体厚度的影响。
3.边沿效应：本仪器对试片外貌形状的陡变敏感，因此在靠近试片边沿或内转角处举行测量是不行靠的。
4.曲率：试件的曲率也会对测量精度有影响，这种影响是随着曲率半径减小显着增大。因此不该在试件凌驾容许的曲率半径的弯曲面上测量。
5.粗糙度：基体金属和外貌粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大。粗糙外貌会引起体系偏差和偶尔偏差。每次测量时，在差别位置上适当增加测量的次数，可以降低这种偶尔出现的偏差。
要是基体金属粗糙还必须在未涂覆的粗糙相雷同的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点；或用没有腐化性的溶液撤除在基体金属上的笼罩层，再校对仪器零点。